芯片檢測影像測量儀

產(chǎn)品簡介
芯片檢測影像測量儀可以測量十五種幾何元素（點,直線,平面,圓,圓弧,橢圓,矩形,鍵槽,圓環(huán),圓柱,圓錐,球,開曲線,閉曲線,焦面,角度和距離），并且可以測量高度,也可以預(yù)置基本幾何元素。根據(jù)實際測量需求可以選擇接觸式測量---探針測量，也可以選擇非接觸式測量---影像和激光位移器測量。多種測量方法: 智能尋邊,整體采點,多段采點,鼠標(biāo)采點,鄰近采點,十字線采點,放大采點,對比采點。

產(chǎn)品型號：PZ-1510F

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

實驗檢測儀器

表面3D輪廓儀三維光學(xué)形貌儀材料試驗機光學(xué)軸類測量儀超景深三維顯微鏡粗糙度測量儀共面性測試儀接觸角測定儀一鍵式快速測量儀精密測量投影儀 CNC全自動影像儀 3D三坐標(biāo)測量機快速尺寸測量儀測量金相顯微鏡刀具投影測量儀金相光學(xué)顯微鏡磨刀機顯微鏡測量分析顯微鏡視頻測量顯微鏡金屬材料顯微鏡高倍金相顯微鏡光學(xué)輪廓顯微鏡水滴角界面測量儀界面張力測量儀超低界面張力儀平面度測試儀臥式影像測量儀精密影像測量儀

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芯片生產(chǎn)企業(yè)，產(chǎn)品有200多個品種，并在不斷的增加，每種芯片產(chǎn)量少則幾千件，多則上萬件。所有的芯片需要全檢，并根據(jù)不同的尺寸公差，將產(chǎn)品分成優(yōu)、良、差三個等級。客戶以往的工作方式是采用芯片檢測影像測量儀，一個一個進行人工操作測量分級，這對客戶來說無疑是大的工作量。面對與日俱增的工作量，對檢測及分揀自動化提出了要求。

測量是我公司自動影像加探針和激光位移器測量應(yīng)用軟件，可以對二維測量的坐標(biāo)進行可視化分析處理和檢測，也可以使用探針進行三維幾何元素測量,也可以用激光位移器測量平面度和高度。應(yīng)用于各種精密制造業(yè)，如手機組件,模具,電子,通信,機械,五金,塑料,儀表,鐘表,PCB,LCD等行業(yè)。可測量的材料包括金屬,塑料,橡膠,玻璃,PCB,陶瓷等;

芯片檢測影像測量儀技術(shù)參數(shù)：

工作臺	儀器型號	EVM-1510G	EVM-2010G	EVM-2515G	EVM-3020G	EVM-4030G
	金屬臺尺寸(mm)	354×228	404×228	450×280	500×330	606×466
	玻璃臺尺寸(mm)	210×160	260×160	306×196	350×280	450×350
	運動行程(mm)	150×100	200×100	250×150	300×200	400×300
	儀器重量(kg)	100	110	120	140	240
	外型尺寸LWH	756×540×860		670×660×950		720×950×1020