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導電粒子顯微鏡
2019-02-22
導電粒子顯微鏡產品介紹應用領域：LCD液晶、導電粒子、彩色濾光片、手機屏幕、FPD模組、半導體晶圓片、FPC、PCBIC封裝、光盤CD、圖像傳感器CCD、CMOS、PDA等。光源：采用3W高亮度LED落射和透射照明裝置。物鏡：高清晰平場熒光物鏡。偏光：主機內含有可調節偏光裝置。微分干涉DIC：主機內含有可調節微分干涉DIC裝置，使觀察更清晰，具有更強的立體感和調焦功能。工作原理導電粒子顯微鏡是利用電子束在樣品表面掃描激發出來代表樣品表面特征的信號成像的。主要用來作微形貌觀察、...
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機械穩定度測定儀
2019-02-20
XR-14膠乳高速機械穩定性測定儀，符合《GBT8301-2008濃縮天然膠乳機械穩定度的測定》和《SHT1151-1998合成膠乳高速機械穩定性的測定法》標準要求。該儀器主要適用于膠乳生產單位和科研院所對天然膠乳和合成膠乳做機械穩定性測試，是提高膠乳質量*的儀器。測試方法：首先用氨溶液對100g試樣進行稀釋，使其中的固體含量達到總質量分數的55%，然后立即用加熱裝置將試樣加熱到36~37℃，同時輕輕攪拌。然后立即將加熱后的膠乳用不銹鋼絲網進行過濾，并稱取80g的膠乳放在容器...
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乳膠高速機穩儀
2019-02-20
XR-14膠乳高速機械穩定性測定儀XR-14膠乳高速機械穩定性測定儀，符合《GBT8301-2008濃縮天然膠乳機械穩定度的測定》和《SHT1151-1998合成膠乳高速機械穩定性的測定法》標準要求。該儀器主要適用于膠乳生產單位和科研院所對天然膠乳和合成膠乳做機械穩定性測試，是提高膠乳質量*的儀器。測試方法：首先用氨溶液對100g試樣進行稀釋，使其中的固體含量達到總質量分數的55%，然后立即用加熱裝置將試樣加熱到36~37℃，同時輕輕攪拌。然后立即將加熱后的膠乳用不銹鋼絲網進...
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乳膠高速機械穩定性測試儀
2019-02-12
一、儀器特點該儀器轉速穩定。在14000r/min運轉時，速動波動范圍不超過100r/min。且可在3000r/min至20000r/min任意設定。該產品采用二十一世紀高水平高速交流電機,電機的繞組采用耐高溫材料制成（高能達到230度），所以電機免冷卻，精度高，運轉平穩，使用壽命長。調速部分采用變頻調速，變頻器選用中國臺灣進口產品，其性能好，質量可靠。儀器配有乳膠容器手動升降系統。當攪拌盤底部距膠乳容器底部內表面13±1mm處時限位停止，操作簡單準確。二、主要...
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清潔度檢測CIX100
2019-02-12
1、使用偏振光確認磨屑顆粒的優勢合適的軟件使用戶能夠輕松地區分金屬和非金屬顆粒。很多標準，包括ISO16232和ISO4407，以及公司內部標準，都要求能夠按照各種參數來區分磨屑顆粒。尤其重要的是區分金屬與非金屬顆粒。通過顯微鏡和清潔度分析軟件，技術人員就能夠有效地使用偏振光來區分金屬和非金屬顆粒，從而確定某個機械部件是否終已經過度磨損或失效。2、機械部件性能中磨屑顆粒分析的重要性很多機械部件生產廠商面臨的問題是這些在部件生產加工后的顆粒殘留，或者是部件服役一段時間后而殘留的...
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半導體/FPD/工業檢測顯微鏡MX63/MX63L
2019-01-30
現今智能手機產業的蓬勃發展帶動了包括半導體、平板顯示（FPD）、印制電路板（PCB）等整個電子制造業的飛速進步。奧林巴斯新推出的MX63和MX63L工業檢測顯微鏡具備優異的光學性能、適合大樣品的檢測、先進的人體工學設計等諸多將會有助電子制造行業的發展更上一層樓。的MX63/MX63L顯微鏡具備有如下的特點：從不可見到可見：MIX觀察與采集新MX63/MX63L顯微鏡是該系列支持奧林巴斯MIX照明功能的產品，由此進一步提升了該顯微鏡的觀察能力。MIX可將暗場與明場、熒光或偏振等...
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光學數碼顯微鏡DSX510
2019-01-30
舒適的操作性能，傳統顯微鏡*。DSX系列并非操作顯微鏡本身，而是通過直觀、易懂的GUI畫面菜單進行操作。可根據用戶熟練程度選擇操作模式，并通過觸摸屏、鼠標、操縱桿等的全新操作方式，實現了舒適的操作性能。無論是具備顯微鏡方面的知識和技能的操作人員，還是對顯微鏡不熟悉的操作人員，都能直觀的完成操作。用于不同熟練度和用途的3個操作模式在DSX系列上，根據用戶的熟練程度，優化設計了2個GUI的操作模式："標準模式"和"初級模式"。同時，還配置了可以自定義標準模式，專門用于常規工作的"...
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激光共聚焦顯微鏡OLS4100
2019-01-30
的測量更大的樣品范圍輕松檢測85°尖銳角有尖銳角的樣品（剃刀）采用了有著高N.A.的物鏡和光學系統（能大限度發揮405nm激光性能），LEXTOLS4100可以地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。這有利于粗糙度的測量。LEXT物鏡使用物鏡時的小象差高度分辨率10nm，輕松測量微小輪廓(MPLAPON50XLEXT)高度差標準類型B,PTB-5,InstitutfürMikroelektronik,Germany,6nm高度測量中的檢測由于采用405nm的短波長激光和更高數...
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