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橢偏儀SOPRALAB/KLA 在半導體工藝上的應用
2019-01-25
公司提供匈牙利Semilab公司SE-2000型、SE-1000光譜型橢偏儀（原法國Sopra公司GES5-E）。WT-2000型、WT-1200A、WT-1200B型、WT-1000型少子壽命測試儀、DLS-83D深能級瞬態譜儀。SE-2000光譜橢偏儀（原法國Sopra公司）是的橢偏儀設備供應商，其高精度橢偏儀在半導體、化合物半導體（GaAs/SiC）、LCD和MEMS領域有著非常廣泛的應用。目前有超過500臺的Sopra橢偏儀應用在各個行業。主要特點：高精度的薄膜測量（...
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臺階輪廓測試儀kia-tencor在半導體的應用
2019-01-25
儀器簡介：應用：◆薄膜厚度測量；◆樣品表面形貌測量；◆薄膜應力測量；◆樣品表面粗糙度/波紋度測量；◆樣品表面三維形貌測量等。技術參數：KLA-Tenco探針式臺階儀，可測量納米級至2毫米臺階高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應力，集高測量精度、多功能性和經濟性于一體，是生產線及材料分析等應用領域的理想選擇。因其具有6.0A(1σ)或0.1%臺階高度重復性以及分辨率,主要特點：◆Alpha-StepIQ采用天然金剛石作為探頭，經久耐用。探針更換簡便、快速，軟件具有保護測針以...
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光學膜厚儀Filmetrics F20UVX在半導體制造的應用
2019-01-25
FilmetricsF20薄膜測厚儀經濟有效的Filmetrics薄膜厚度測量系統,測量薄膜厚度僅需幾秒鐘。Filmetrics系列膜厚測試儀擁有單點測量、顯微鏡斑點測量、自動測繪系統、在線監測等功能型號的膜厚測試儀產品。Filmetrics膜厚測試儀產品輕點鼠標就能測量1納米到13毫米的單層薄膜或多層薄膜堆厚度。幾乎所有的材料都可以被測量。直觀的設計意味著您能在幾分鐘內完成個薄膜厚度測量！產品介紹：1有五種不同波長選擇(波長范圍從紫外220nm至近紅外1700nm)；2大樣...
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龍門三坐標的簡介
2019-01-24
為了滿足不同行業的不同需求，三坐標測量機也分好多種，其中有一種叫龍門式三坐標測量機的測量設備，主要為有大型工件測量需求的客戶提供測量解決方案。下面我們推薦一種叫Atlas的大型龍門式三坐標測量機，以下是一些技術參數，希望對您的使用購買有所幫助。Atlas系列三坐標測量機是為大型及超大型工件設計的坐標測量機系列，采用龍門式結構，Y軸超長行程時采用花崗巖氣浮導軌對接技術，使Y軸測量范圍可達30M。該系列產品主要應用于汽車、航天航空、船舶、高鐵、重型運輸以及模具行業。Atlas龍門...
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顯微鏡的詳細介紹
2019-01-24
利用光學透鏡組把樣品的像放大，從而看出它的微細結構的儀器。主要由一短焦距的透鏡組作為物鏡和一焦距較長的透鏡組作為目鏡組成，分別固定在金屬管兩端，目鏡和物鏡間的距離可以調節。分光學顯微鏡和電子顯微鏡，放大率約為幾百到80萬倍左右。廣泛用于生物學、醫學、農業以及礦冶、機械等工業中。顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器，是人類進入原子時代的標志。主要用于放大微小物體成為人的肉眼所能看到的儀器。顯微鏡分光學顯微鏡和電子顯微鏡：光學顯微鏡是在1590年由荷蘭的詹森父子所...
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動態潤濕角測定儀
2019-01-23
該儀器主要用于測量液體對固體的動態接觸角（前進角、后退角、滾動角）、靜態接觸角、水滴角、親水角、潤濕角、浸潤角；分析固體表面的潤濕行為；通過分析液滴外形的懸滴法測量表面/界面張力；計算表面自由能（固體表面張力）。適用于石油、化工、電力、印刷、學校等科學研究領域。技術參數1、光學系統：（1）成像：連續變倍顯微鏡鏡頭；USB2.0三百萬高像素數字相機，可清晰分析動態液滴，并適用于筆記型計算機操作，不須加裝影像卡（2）光源：可調亮度單色冷光LED背光光源，圖像中液滴邊緣分辨更清晰；...
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大平臺親水角測定儀
2019-01-23
該儀器主要用于測量液體對固體的接觸角、水滴角、親水角、潤濕角，分析固體表面的潤濕行為。廣泛適用于石油、化工、醫藥、電力、印刷、學校等科學研究領域。主要用于測量液體對固體的靜態接觸角。分析固體表面的潤濕行為，計算表面自由能（固體表面張力）。設計構造建立在模塊化的概念上，制造上選用精美的工業鋁型材為主體，它為您的應用和選擇提供了很大的靈活性。主要技術參數：1光學系統：（1）成像：高像素數字相機和連續變焦顯微鏡鏡頭；接口；USB2.0、像素三百萬（2）光源：亮度連續可調單色冷光LE...
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水滴角測量儀注意的事項
2019-01-22
前面對接觸角測定儀常識進行了介紹，實施時應注意以下兩個問題：平衡時間和體系溫度的恒定，當體系未達平衡時，接觸角會變化，這時的接觸角稱為動態接觸角，動態接觸角研究對于一些粘度較大的液體在固體平面上的流動或鋪展有重要意義(因粘度大，平衡時間長)。同時，對于溫度變化較大的體系，由于表面張力的變化，接觸角也會變化，因此，若一已基平達平衡的體系，接觸角的變化，可能與溫度變化有關，簡單判斷影響因素的方法是，平衡時間的影響一般是單方向的，而溫度的波動可能造成γ的升高或降低。除平衡時間和溫度...
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